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南昌绝缘子盐密度测试仪 相关术语：1、参照盘形悬式绝缘子 reference cap and pin insulatorXP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盘形悬式绝缘子（根据GB/T 7253），通常7~9片组成一串用来测量现场污秽度。2、爬电距离 creepage distance在两个导电部分之间，沿绝缘体表面的短距离。注：水泥或其他非绝缘胶合材料表面不认为是爬电距离的构成部分。如果绝缘子的绝缘件的某些部分覆盖有高电阻层，则该部分应认为是有效绝缘表面并且沿其上面的距离应包括在爬电距离内。3、统一爬电比距 unified specific creepage distance（USCD）绝缘子的爬电距离与其两端承担的运行电压（对于交流系统，为相电压）之比，mm/kV。4、附盐密度 salt deposit density（SDD）人工涂覆于给定绝缘子表面（不包括金属部件和装配材料）上氯化钠总量除以表面积，mg/cm2。等值附盐密度 绝缘子单位绝缘表面上的等值附盐量，mg/cm2。6、不溶物密度（简称灰密） ）绝缘子单位绝缘表面上清洗的非可溶残留物总量除以表面积，mg/cm2。7、现场等值盐度根据GB/T 4585进行盐雾试验时的盐度。用该盐度试验，在相同绝缘子和相同电压下，产生的泄露电流峰值与现场自然污秽条件下的泄露电流基本相同。8、现场污秽度 s）在适当的时间段内测量到的污秽严重程度ESDD/NSDD或SES的值。9、现场污秽度等级 s将污秽严重程度从非常轻到非常严重按SPS的分级。10、带电系数K1 同形式绝缘子带电所测ESDD/NSDD（SES）值与非带电所测值之比，K1一般为 主测量界面图2.2开机，即为测量页面，测量工作均在此页面进行，相关按钮介绍见下表：按钮名称功能“参数切换至“参数设置界面记录切换至“记录查看界面”“校准”校准盐密、灰密基准值“搅拌”将溶液污秽物拌匀并测量灰密值“打印打印本次测量结果“保存”保存测试结果到内存中
南昌绝缘子盐密度测试仪装置结构及原理2.1 装置结构交流接地故障查找仪由系统分析仪、支路探测仪、采集器三部分组成。2.2 测试原理2.2.1 交流中心点不接地系统障查找原理(IT系统)该装置采用低频小信号的原理对被测系统进行绝缘分析与故障定位。在对交流不接地系统绝缘故障进行查找时，将分析仪上标示的L1，L2，L3及地线对应的接入被测系统，分析仪会向被测系统施加一低频小信号来计算系统总的对地绝缘电阻，如下图示：交流不接地系统绝缘故障分析原理图如上图示，信号源Signal产生的电压变化幅值为U1，此时，B点对地的电压变化幅值为U2，根据R1与Rx两端的电压与电阻比可列关系式：（U1-U2）/U2 ＝ R1/Rx可得：Rx ＝ (R1 ＊ U2) / (U1 – U2)如果分析仪检测出被测系统存在绝缘故障，则按照用户设定的频率与信号幅值启动检测信号，该检测信号在被测系统中产生的电压变化幅值为U2。在C，D，E处分别检测被测系统馈线漏电电流变化波形，C处为1＃正常馈线，D处为N＃故障馈线的故障点靠近母线一侧，E处为N＃故障馈线回路的故障点靠近负荷一侧。由于C处与E处负荷侧方向没有绝缘故障，所以其对应的电流I１与Im为零，而D处负荷侧存在故障电阻Rx,则信号源在Rx上会产生故障电流信号，该故障信号电流的频率与幅值会与信号源Signal的频率和幅值变化一致，如果信号源在Rx两端产生的电压变化幅值为U2，电流变化幅值为In,则：Rx ＝ U2 / In对于单相不接地交流系统绝缘故障查找，则只需接入L1与L2及地线即可。2.2.2 交流中心点接地系统故障查找原理（TN-S系统）对于中心点接地系统故障查找可直接采用漏电流测量的方式进行分析，如下图示：设图中L1，L2，L3三相对地电压分别为U1，U2，U3，分析C，D，E三处的电流可知，C与E处电流为零，D处电流为U3/Rx,根据这一特征可以实现该类系统的绝缘故障查找。
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